CMI950 CMI950X射线荧光镀层测厚仪,CMI950有着非破坏,CMI950非接触,CMI950多层合金测量,CMI950高生产力,高再现性等优点,CMI950在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。CMI950用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。主要特点样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围:Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST的标准片 CMI950X射线荧光测厚仪 技术参数 主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统 多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时,大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 CMI900 CMI950 -样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 -大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm -XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm |